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挑选合适的自动光学检测仪品牌
2018-01-10 18:52:34
企业花钱购买自动光学检测仪影像测量仪不是越贵越好,也不是说越便宜越好,而是买价格和价值相匹配的产品。首先应该挑选合适的品牌, 很多企业打着大品牌的旗号,产品的质量却跟不上。自动光学检测仪影像测量仪影响精度的因素有很多。首先是机器本身所 选用的原材料,在测量行业多年经验总结,材料使用花岗岩可确保稳定性。其次配备的相机以及光源也得考虑,彩色CCD工业相机以及同轴光、透射光和表面环形光都是行业用的比较多的。
自动光学检测仪功能对应需求
影像测量仪测量的功能大相径庭,一般的都能测量。用户要根据产品检测需求选择不同行程的影像测量仪,有一点需注意,如果企业内部检测产品种类多,又不想多买机器,小编建议可选择海克斯康影像产业单元的复合式影像测量仪,机器具有双Z轴功能,光学扫描测量 和接触式探针检测两不耽误,既节约成本的同时又提高效率。
经过近112年的努力,自动光学检测仪系统(AOI)最终被成功地运用在印刷电路板(PCB)生产线上。在这段时间内,AOI供应商的数量急剧增加,各种AOI技术也得到了长足发展。目前,从简单的摄像系统到复杂的3-D X光检测系统,众多供应商们已经几乎能够提供可 以适用于所有自动生产线的AOI设备。
在PCB制造业,元件的微型化和密集化是一直以来的发展趋势。这促使制造商为其生产线安装AOI设备。因为依靠人工已经不可能对分布细密的元件进行可靠而一致的检测,并且保存精确的检测记录。而AOI则可以进行反复而精确的检测,检测结果的存贮和发布还可以实 现电子化。
在许多情况下,制程工程师对锡膏印刷机和组装进程的检测和调节可以保证生产线的锡膏粘污率(溅锡率)只有百万分之几(ppm)。对于一条高产量/低混合的生产线来说,比较典型的锡膏粘污数是百万分之二十至百万分之一百五十。实践证明,仅靠对印刷电路板样本 进行抽样检测是难于发现每一个以及每一种锡膏粘污的。只有对所有的电路板进行100%的检测才能保证更大的检测覆盖率,从而实现统计过程控制(SPC)。
人类对光的研究,约在公元前400多年(先秦的代),中国的《墨经》中记录了世界上最早的光学知识。自动光学检测仪试图回答“人怎么能看见周围的物体?”之类问题。
惠更斯是光的微粒说的反对者,他创立了光的波动说。提出“光同声一样,是以球形波面传播的”。并且指出光振动所达到的每一点,都可视为次波的振动中心、次波的包络面为传播波的波阵面(波前)。在整个18世纪中,光的微粒流理论和光的波动理论都被粗略地提 了出来,但都不很完整。
19世纪初,波动光学初步形成,其中托马斯·杨圆满地解释了“薄膜颜色”和双狭缝乾涉现象。菲涅耳于1818年以杨氏乾涉原理补充了惠更斯原理,由此形成了今天为人们所熟知的惠更斯-菲涅耳原理,用它可圆满地解释光的干涉和衍射现象,也能解释光的直线传播 。
在进一步的研究中,观察到了光的偏振和偏振光的干涉。为了解释这些现象,菲涅耳假定光是一种在连续媒质(以太)中传播的横波。为说明光在各不同媒质中的不同速度,又必须假定以太的特性在不同的物质中是不同的;在各向异性媒质中还需要有更复杂的假设。 此外,还必须给以太以更特殊的性质才能解释光不是纵波。如此性质的以太是难以想象的。
光学
1846年,法拉第发现了光的振动面在磁场中发生旋转;1856年,韦伯发现光在真空中的速度等于电流强度的电磁单位与静电单位的比值。他们的发现表明光学现象与磁学、电学现象间有一定的内在关系。
1860年前后,麦克斯韦的指出,电场和磁场的改变,不能局限于空间的某一部分,而是以等于电流的电磁单位与静电单位的比值的速度传播着,光就是这样一种电磁现象。这个结论在1888年为赫兹的实验证实。然而,这样的理论还不能说明能产生象光这样高的频率 的电振子的性质,也不能解释光的色散现象。到了1896年洛伦兹创立电子论,才解释了发光和物质吸收光的现象,也解释了光在物质中传播的各种特点,包括对色散现象的解释。在洛伦兹的理论中,以太乃是广袤无限的不动的媒质,其唯一特点是,在这种媒质中光振动 具有一定的传播速度。
对于像炽热的黑体的辐射中能量按波长分布这样重要的问题,洛伦兹理论还不能给出令人满意的解释。并且,如果认为洛伦兹关于以太的概念是正确的话,则可将不动的以太选作参照系,使人们能区别出绝对运动。而事实上,1887年迈克耳逊用乾涉仪测“以太风” ,得到否定的结果,这表明到了洛伦兹电子论时期,人们对光的本性的认识仍然有不少片面性。
1900年,普朗克从物质的分子结构理论中借用不连续性的概念,提出了辐射的量子论。他认为各种频率的电磁波,包括光,只能以各自确定分量的能量从振子射出,这种能量微粒称为量子,光的量子称为光子。
如果要对在生产线上运用的AOI自动光学检测仪进行评估,则需要区分只能进行检测的系统和可以进行测量的系统。
只能寻找诸如元件缺失、位置放错等缺陷的检测系统不能提供工艺控制的工具,所以不能用它们来提高PCB的生产工艺。工程师还是必须手动来调整生产工艺。但是,这些检测系统既快捷又便宜。
另一方面,测量系统能够提供每一个元件的准确数据,对测量生产工艺参数十分重要。这些系统要比检测系统昂贵,但是当你将他们和SPC软件整合到一起,测量系统则可以提供改善生产工艺所必需的信息。
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自动光学检测仪功能对应需求
影像测量仪测量的功能大相径庭,一般的都能测量。用户要根据产品检测需求选择不同行程的影像测量仪,有一点需注意,如果企业内部检测产品种类多,又不想多买机器,小编建议可选择海克斯康影像产业单元的复合式影像测量仪,机器具有双Z轴功能,光学扫描测量 和接触式探针检测两不耽误,既节约成本的同时又提高效率。
经过近112年的努力,自动光学检测仪系统(AOI)最终被成功地运用在印刷电路板(PCB)生产线上。在这段时间内,AOI供应商的数量急剧增加,各种AOI技术也得到了长足发展。目前,从简单的摄像系统到复杂的3-D X光检测系统,众多供应商们已经几乎能够提供可 以适用于所有自动生产线的AOI设备。
在PCB制造业,元件的微型化和密集化是一直以来的发展趋势。这促使制造商为其生产线安装AOI设备。因为依靠人工已经不可能对分布细密的元件进行可靠而一致的检测,并且保存精确的检测记录。而AOI则可以进行反复而精确的检测,检测结果的存贮和发布还可以实 现电子化。
在许多情况下,制程工程师对锡膏印刷机和组装进程的检测和调节可以保证生产线的锡膏粘污率(溅锡率)只有百万分之几(ppm)。对于一条高产量/低混合的生产线来说,比较典型的锡膏粘污数是百万分之二十至百万分之一百五十。实践证明,仅靠对印刷电路板样本 进行抽样检测是难于发现每一个以及每一种锡膏粘污的。只有对所有的电路板进行100%的检测才能保证更大的检测覆盖率,从而实现统计过程控制(SPC)。
人类对光的研究,约在公元前400多年(先秦的代),中国的《墨经》中记录了世界上最早的光学知识。自动光学检测仪试图回答“人怎么能看见周围的物体?”之类问题。
惠更斯是光的微粒说的反对者,他创立了光的波动说。提出“光同声一样,是以球形波面传播的”。并且指出光振动所达到的每一点,都可视为次波的振动中心、次波的包络面为传播波的波阵面(波前)。在整个18世纪中,光的微粒流理论和光的波动理论都被粗略地提 了出来,但都不很完整。
19世纪初,波动光学初步形成,其中托马斯·杨圆满地解释了“薄膜颜色”和双狭缝乾涉现象。菲涅耳于1818年以杨氏乾涉原理补充了惠更斯原理,由此形成了今天为人们所熟知的惠更斯-菲涅耳原理,用它可圆满地解释光的干涉和衍射现象,也能解释光的直线传播 。
在进一步的研究中,观察到了光的偏振和偏振光的干涉。为了解释这些现象,菲涅耳假定光是一种在连续媒质(以太)中传播的横波。为说明光在各不同媒质中的不同速度,又必须假定以太的特性在不同的物质中是不同的;在各向异性媒质中还需要有更复杂的假设。 此外,还必须给以太以更特殊的性质才能解释光不是纵波。如此性质的以太是难以想象的。
光学
1846年,法拉第发现了光的振动面在磁场中发生旋转;1856年,韦伯发现光在真空中的速度等于电流强度的电磁单位与静电单位的比值。他们的发现表明光学现象与磁学、电学现象间有一定的内在关系。
1860年前后,麦克斯韦的指出,电场和磁场的改变,不能局限于空间的某一部分,而是以等于电流的电磁单位与静电单位的比值的速度传播着,光就是这样一种电磁现象。这个结论在1888年为赫兹的实验证实。然而,这样的理论还不能说明能产生象光这样高的频率 的电振子的性质,也不能解释光的色散现象。到了1896年洛伦兹创立电子论,才解释了发光和物质吸收光的现象,也解释了光在物质中传播的各种特点,包括对色散现象的解释。在洛伦兹的理论中,以太乃是广袤无限的不动的媒质,其唯一特点是,在这种媒质中光振动 具有一定的传播速度。
对于像炽热的黑体的辐射中能量按波长分布这样重要的问题,洛伦兹理论还不能给出令人满意的解释。并且,如果认为洛伦兹关于以太的概念是正确的话,则可将不动的以太选作参照系,使人们能区别出绝对运动。而事实上,1887年迈克耳逊用乾涉仪测“以太风” ,得到否定的结果,这表明到了洛伦兹电子论时期,人们对光的本性的认识仍然有不少片面性。
1900年,普朗克从物质的分子结构理论中借用不连续性的概念,提出了辐射的量子论。他认为各种频率的电磁波,包括光,只能以各自确定分量的能量从振子射出,这种能量微粒称为量子,光的量子称为光子。
如果要对在生产线上运用的AOI自动光学检测仪进行评估,则需要区分只能进行检测的系统和可以进行测量的系统。
只能寻找诸如元件缺失、位置放错等缺陷的检测系统不能提供工艺控制的工具,所以不能用它们来提高PCB的生产工艺。工程师还是必须手动来调整生产工艺。但是,这些检测系统既快捷又便宜。
另一方面,测量系统能够提供每一个元件的准确数据,对测量生产工艺参数十分重要。这些系统要比检测系统昂贵,但是当你将他们和SPC软件整合到一起,测量系统则可以提供改善生产工艺所必需的信息。
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